一般快闪式记忆体由于浮停闸的热载子（Hot Carrier）问题， 需有较长的抹除时间（Erase Time）以及需较厚的穿遂氧化层已维持良好的电 荷储存能力（Retention），所以造成元件难以缩微...
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hot-carrier injection 热载流子注入 ; 载流子注入 ; 热电子注入 ; 的热载流子注入
hot carrier diode [电子] 热载流子二极管 ; 热载劣二极管 ; 热载流二极管
Hot carrier effect 热载子效应 ; 子效应 ; 以及热载流子效应
hot-carrier test 热载子试验 ; 热风炉
HCD Hot Carrier Diode 热载流子二极管
Hot Carrier Cells 热载流子电池
hot carrier injection 热载流子注入 ; 子注入 ; 热载子注入
hot carrier transistor [电子] 热载流子晶体管
The hot carrier effects (HCE) in deep sub-micron devices has been studied.
对深亚微米器件中热载流子效应(hce)进行了研究。
We give a brief review of a balance-equation approach to hot carrier transport in semiconductors.
本文简略地介绍处理半导体中热载流子输运的一个解析方法——平衡方程方法。
Under hot carrier stress, device degradation is the consequence of hot carrier induced defect generation locally at drain side.
在热载流子应力条件下，器件的退化主要是由于在漏极附近由热载流子产生的损伤缺陷引起的。
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